电子设备高低温测试设备

电子设备高低温测试设备技术参数:

1.标准型号和尺寸（也可按客户要求生产）（单位:mm）：

           型号 LQ-GD-80  内箱尺寸:W×H×D 400×500×400   

           型号 LQ-GD-150 内箱尺寸:W×H×D 500×600×500    

           型号 LQ-GD-225 内箱尺寸:W×H×D 500×750×600   

           型号 LQ-GD-408 内箱尺寸:W×H×D 600×850×800    

           型号 LQ-GD-800 内箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800  

           型号 LQ-GD-1000内箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000 

2.温度范围：0℃/-20℃/-40℃/70℃～+150℃（风冷式）；

3.温度精度：0.01℃；

4.-温度波动度：±0.1℃；

5.温度均匀度：±1℃；

6.升温时间：平均约3℃/min，（非线性控制、空载）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

7.降温时间：平均约1℃/min，（非线性控制、空载）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

8.噪音：≤75db；

性能指标符合

电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)